中文规范称号: 半导体器件.机器以及气象实验办法.第11局部: 温度骤变.双液电镀槽法

　　替代规范号: DIN EN 60749-2002,

　　中国规范分类号: L40

　　规范存眷次数: 37次

　　规范上传日期: 2010-9-18

　　公布日期: 2003-04

　　施行日期: 2003-04-01

　　英文规范称号: Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 11: Rapid change of temperature; Two-fluid-bath method (IEC 60749-11:2002); German version EN 60749-11:2002

　　采纳国内规范号: EN 60749-11-2002,IEC 60749-11-2002 半导体器件.机器以及气象实验办法.第11局部: 温度的急速变动.双液电镀槽法,IDT,

　　规范种别: 德国规范

　　规范页数: 10P.;A4 页